Zakład Materiałów Proszkowych i Kompozytowych

Urządzenie do iskrowego spiekania plazmowego (Spark Plasma Sintering –SPS)

Rozwiń

Typ HP D 5 (FCT Systeme GmbH)

Siła prasowania 3 - 50 kN
Max. średnica matrycy grafitowej 30 mm
Temperatura pracy do 2200°C
Atmosfera próżnia lub argon
Rodzaj grzania ciągły/impulsowy

Zwiń

Wysokoenergetyczne młynki planetarne

Rozwiń
  Młyn planetarny
Pulverisette 7 (Fritsch)
Młyn planetarny
PM 400 (Retsch)
Prędkość obrotowa do 1000 obr/min do 400 obr/min
Młyn kriogeniczny CryoMill (Retsch)
Częstotliwość 3-25 Hz
mielenie w temperaturze ciekłego azotu

Zwiń

NanoTec Analysette 22 (Fritsch)

Rozwiń
Analiza rozkładu uziarnienia techniką dyfrakcji laserowej
Pomiar na sucho w zakresie 0,1 – 2000 µm
Pomiar na mokro w zakresie 0,01 – 2000 µm
Możliwość stosowania różnych cieczy dyspergujących, np. woda, glikol, gliceryna

Zwiń

Dyfraktometr rentgenowski XRD 7 ( Seifert-FPM)

Rozwiń
Identyfikacja składu fazowego w oparciu o dane katalogowe PDF-2 (2007) firmy ICDD
Określanie tekstury na podstawie figur biegunowych prostych i odwrotnych
Pomiar wielkości krystalitów oraz naprężeń na podstawie profilu i położenia rentgenowskich linii dyfrakcyjnych

Zwiń

Mikroanalizator rentgenowski JXA 8230 (JOEL)

Rozwiń
Analiza ilościowa i jakościowa w mikroobszarach techniką energodyspersyjną (EDS) oraz falowo-dyspersyjną (WDS) wzorcową ze szczególnym uwzględnieniem pierwiastków lekkich,
Granica wykrywalności pierwiastków:
  • 10 - 100 ppm dla pierwiastków ciężkich (od Na do U)
  • 100 - 500 ppm dla pierwiastków lekkich (od Be do F),
Analizy powierzchniowe, rentgenowskie powierzchniowe mapy rozkładu pierwiastków, analizy liniowe, w tym badania osnowy, wtrąceń i nieciągłości mikrostrukturalnych
Analiza mikrostruktury techniką EBSD, w tym określenie orientacji poszczególnych ziaren, wielkości ziaren.

Zwiń

LSR- 3 Seebeck

Rozwiń
Pomiar oporu elektrycznego metodą czteropunktową i siły termoelektrycznej (stałej Seebecka)
Pomiar w zakresie temperatur od - 100°C do 1100°C
pomiar siły termoelektrycznej

Zwiń